2023年06月08日 19:00 - 20:00
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在上一期的研讨会中,我们介绍了如何在芯片设计、实现和验证阶段,利用西门子 EDA 的成熟工具,轻松玩转 ISO26262。
今天我们来聊一聊关于芯片测试,西门子 EDA 带你怎么玩!车规芯片怎么测? 车规芯片的测试有什么特别之处? 车规芯片的测试怎么满足 ISO26262 的要求?车规芯片出厂前怎么测? 车规芯片上车后怎么测? 车规芯片老化后怎么测?汽车运行前怎么测? 汽车运行中怎么测?汽车运行后怎么测?
测测测,带着这些问题,让我们一起群“测”群力~!
西门子 EDA 邀您轻松玩转 ISO26262(下)
李一凡
Tessent 产品经理
西门子 EDA
Tessent 产品经理,西门子 EDA
Tessent 产品经理,负责 Tessent 产品以及 DFT 解决方案的市场推广。有超过10年芯片设计验证,DFT 方案实现和工具培训的经验。从 DFT 方案的设计落实,仿真验证,到回片之后的测试诊断。全方位地为国内外客户芯片测试保驾护航。