RISC-V 系统调试与追踪：Tessent UltraSight-V 解决方案

2026 西门子 EDA RISC-V 系列在线研讨会（第4场）

会议时间

2026年06月18日 14:00 - 15:00

会议简介

在 RISC-V 系统中，一个完善的调试和追踪基础设施对于识别和解决根本性错误至关重要。本次网络研讨会将为您全面介绍 Tessent UltraSight-V，这是一个端到端的 RISC-V 调试和追踪解决方案。它由嵌入式 IP 和软件组成，能够与行业标准工具无缝集成。我们将介绍：

UltraSight-V 如何为 RISC-V SoC 提供广泛的调试和追踪洞察力。深入了解 UltraSight-V 如何帮助您透彻理解 RISC-V SoC 的内部运作。
RISC-V 高效追踪 (E-trace) 标准是什么，以及 UltraSight-V 中的增强型追踪编码器如何降低采用 RISC-V 的部分风险。我们将解释 E-trace 标准，并展示 UltraSight-V 的创新功能如何简化您的 RISC-V 部署。
如何利用非侵入式可见性、日志记录和通过 DMA 进行的快速代码上传机制，来理解程序行为，从而实现高级调试并最大限度地减少调试延迟。学习如何高效地分析程序执行，加速调试过程。

会议日程

14:00-15:00

RISC-V 系统调试与追踪：Tessent UltraSight-V 解决方案

郑蔚

高级应用工程师

西门子 EDA

* 最终日程以活动当天为准

嘉宾介绍

郑蔚

高级应用工程师，西门子 EDA

郑蔚自 2021 年起加入Tessent Embedded Analytic，一直为多个不同客户的项目提供调试和跟踪解决方案支持。在加入西门子 EDA 之前，郑蔚曾在高通和三星从事硅前和硅后系统级芯片（SoC）验证工作多年。

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